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两箱高低温冲击试验箱

简要描述：两箱高低温冲击试验箱适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、车辆、金属、电子产品、各种电子元气件、电线、电缆等在高低温快速交变环境下，确定组件、设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力
品牌：宝试
厂商性质：生产厂家
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更新时间：2023-11-07

产品简介

　　一、两箱高低温冲击试验箱简介：

　　两箱高低温冲击试验箱根据待测试样品的特殊性，分为两箱式动态冲击和三箱式静态冲击，本产品可做冷热冲击，也可以做单独高温或低温使用。是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

　　二、两箱高低温冲击试验箱技术参数

型号	BS-40I	BS-80I	BS-100I	BS-150I	BS-252I	BS-450I
内箱尺寸WHD(mm)	400350300	500400400	500450450	600500500	700600600	800750750
外箱尺寸WHD(mm)	110019301450	120020001550	150019501600	130012301670	175021201970	190022702210
重量(KG)	700	900	1100	1200	1400	1900
温度范围	（A-45℃ B-55℃ C-65℃ 高温区： 60℃-150℃ 低温区：-10℃--65℃ ）
升温时间（蓄热区）	RT-200℃约35min
降温时间（蓄冷区）	RT—70℃约55min
温度回复/切换时间	≤5min / ≤5sec以内
温度精度/分布精度	±0.5℃ ±2.5% ℃
冷却方式	风、水冷式/双断压缩机
电源	AC380V ±10%V 50HZ/60HZ

　　三、两箱高低温冲击试验箱满足标准：

　　1.GJB150.5A-2009温度冲击试验

　　2.GB/2423.22-2012/IEC60068-2-14:2009温度冲击试验

　　3.GB/T2424.13-2002/IEC60068-2-33:1971电工电子产品环境试验第2部分:试验方法温度变化试验导则

　　4.GJB360B-2009温度冲击试验

　　5.GB/T2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温

　　6.GB/T2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温

　　7.GB/T10589-2008低温试验箱技术条件

　　8.GB/T11158-2008高温试验箱技术条件

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